Metrología y sus aplicaciones / Adolfo Escamilla Esquivel
Idioma: Español Editor: México, D.F. : Grupo Editorial Patria, 2009Edición: Primera ediciónDescripción: xii, 138 páginas : ilustraciones, gráficas, diagramas ; 25 cmTipo de contenido:- texto
- imagen fija
- sin medio
- volumen
- 9789708172332
| Imagen de cubierta | Tipo de ítem | Biblioteca actual | Biblioteca de origen | Colección | Ubicación en estantería | Signatura topográfica | Materiales especificados | Info Vol | URL | Copia número | Estado | Notas | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems | Prioridad de la cola de reserva de ejemplar | Reservas para cursos | |
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Libro
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Biblioteca Karol Wojtyla Sala general | General | 530.8 E74 2009 | Disponible | 106259 |
Reimpresiones: (Primera, 2013).
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