TY  - LI
AU  - Escamilla Esquivel,Adolfo
TI  - Metrología y sus aplicaciones
SN  - 9789708172332
PY  - 2009///
CY  - México, D.F.
PB  - Grupo Editorial Patria
KW  - armarc
KW  - Medición
KW  - Metrología
N1  - Reimpresiones: (Primera, 2013)
ER  -